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- 原子力顯微鏡(AFM)有納米級分辨率成像以及電,磁,熱和機(jī)器性能測量的能力。 - 納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡(SICM)。 - 倒置光學(xué)顯微鏡(IOM)便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。
在同級產(chǎn)品中,Park XE7能夠帶來Z高納米級分辨率的測量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構(gòu),即獨(dú)立的XY軸和Z軸柔性掃描器,XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量,從而精確成像和測量樣品的特征。此外,Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來*的圖像效果,探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。
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